產(chǎn)品簡(jiǎn)介
 

　　本設(shè)備既可適用于壓電陶瓷材料居里溫度、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)(靜態(tài))、強(qiáng)場(chǎng)介電性能、熱釋電系數(shù)、品質(zhì)因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)等;如增加高壓放大器模塊，也可實(shí)現(xiàn)鐵電材料的電學(xué)測(cè)試； 配合高低溫測(cè)試環(huán)境同時(shí)可以測(cè)量不同環(huán)境溫度下的材料性能參數(shù)。該系統(tǒng)可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。為一體的綜合測(cè)試系統(tǒng)。為目前研究壓電陶瓷材料\鐵電材料zui為的測(cè)試設(shè)備。模塊化設(shè)計(jì)具有*的擴(kuò)展性。
 

　　設(shè)備內(nèi)置完整的工控計(jì)算機(jī)主機(jī)、測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，包括工控計(jì)算機(jī)主板、CPU(i3或更高)、RAM(4G或更大)、硬盤(120G固態(tài)硬盤)、網(wǎng)卡、USB接口、VGA接口、預(yù)裝Windows7操作系統(tǒng)、鐵電分析儀測(cè)電試軟件等。
 

　　產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
 

　　優(yōu)勢(shì)一：可測(cè)量壓電陶瓷居里溫度、靜態(tài)壓電常數(shù)；
 

　　優(yōu)勢(shì)二：測(cè)量壓電材料介電性能-1KHZ下的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試
 

　　優(yōu)勢(shì)三：可測(cè)量壓電材料積分電荷法熱釋電系數(shù)測(cè)
 

　　優(yōu)勢(shì)四：可測(cè)量壓電陶瓷的品質(zhì)因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)
 

　　優(yōu)勢(shì)五：可選配不同的測(cè)試裝置進(jìn)行不同環(huán)境下的壓電陶瓷參數(shù)測(cè)試
 

　　優(yōu)勢(shì)六：本儀器可配合高壓放大器實(shí)現(xiàn)壓電及鐵電材料的綜合測(cè)試；
 

　　鐵電模塊測(cè)試功能
 

　　鐵電模塊標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能：
 

　　動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率(0.001Hz~150kHz);
 

　　脈沖測(cè)試：zui小脈沖寬度2μs,zui小上升時(shí)間1μs;
 

　　疲勞測(cè)試，zui大頻率300kHz;
 

　　保持力測(cè)試；
 

　　靜態(tài)電滯回線測(cè)試；
 

　　印跡測(cè)試；
 

　　漏電流測(cè)試：1pA to 1A。
 

　　高壓放大器模塊參數(shù)
 

　　高壓電源：DC~150kHz
 

　　輸出電壓：1600Vp-p(±800Vp)(可選)
 

　　輸出電流：40mA
 

　　輸出波形：正弦波、三角波、梯形波等
 

　　壓電模塊測(cè)試功能
 

　　電容-電壓曲線、損耗曲線；
 

　　壓電性能測(cè)試(蝴蝶曲線、d33曲線)；
 

　　熱釋電性能測(cè)試；
 

　　e31、h31 測(cè)試；
 

　　靜態(tài)加載力條件下的測(cè)試；
 

　　測(cè)量范圍(D33)： 2至4000pC/N
 

　　測(cè)試頻率：20HZ-10M;
 

　　測(cè)試精度：0.05%
 

　　測(cè)量參數(shù)：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|
 

　　R、 X、 G、 B、 Φ、 D、 Q、 Vac、 Iac
 

　　施力裝置：約4公斤